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表面划痕检查灯

描述:美国MORSTE/MG660表面划痕检查灯采用大功率LED光源,适用于精密工件表面上的划痕、刮痕,污垢、异物等目视检查。可以确认10um以下的伤痕和微颗粒,采用人眼敏感的光线,旋钮可调节亮度,灯头可自由调整照射角度。
  • 更新时间:2025-09-24
  • 产品型号:MG660
  • 产品厂地:上海市
  • 访问次数:129

产品介绍

表面划痕检查灯

美国MORSTE/MG660表面划痕检查灯的产品详情:

MG660表面检查灯采用大功率LED光源,适用于精密工件表面上的划痕、刮痕,污垢、异物等目视检查。可以确认10um以下的伤痕和微颗粒,采用人眼敏感的光线,照射面积广,操作简单,旋钮可调节亮度,灯头可自由调整照射角度。

美国MORSTE/MG660表面划痕检查灯的产品特点:

● 采用24w 大功率led。

● 瞬间启动,无需预热。

● 50cm柔性臂,可自由调整照射角度。

● 旋钮可调节光亮度。

● 配置匀光板,观察不刺眼。

● 无风扇设计可以在洁净室使用。

● 中心照度(at 30cm)。

●  MG680约49000 Lux(安装透明过滤器时)。

●  MG670 约59000 Lux(安装透明过滤器时)。

● 铝合金外壳,自然冷却。

● 黄光、白光、绿光三种光可选。

● 可选购滤色镜(绿色),可以用大约500-600nm的范围内的绿色光源进行检测。

表面划痕检查灯

技术参数:

表面划痕检查灯

常规应用:

晶圆表面质量检查。

液晶滤光片和彩色滤光片检查。

玻璃镜片表面划痕和异物检查。

硅玻璃表面划痕和异物检查 。

光掩膜表面划痕和异物检查 。

胶片表面划痕和异物检查 。

陶瓷表面检查 。

金属表面(铝、不锈钢、铜等)。

触摸屏表面检查 。

汽车油漆质量。

半导体和芯片制造中的晶圆检测。

太阳能行业和光伏发电的晶圆测试。

外延晶圆的检测。

单晶硅片和多晶晶片的光学测试。

硅片表面的目视测试。

原晶圆和结构化晶圆的测试。

外延晶圆(EPI晶圆)和SOI晶圆表面分析。

用黄光灯测试金晶圆。

使用紫外灯目视检查晶体硅片。

所有材料晶圆的光学表面检测:硅、锗、碳化硅、砷化镓、蓝宝石、玻璃等。

SEMI标准晶圆的目视检测。

键合晶圆、胶带晶圆的质量检查。

视觉晶圆检测也适用于裸晶圆、薄晶圆和扇出晶圆。

强曲面晶圆(eLWB等)的光学质量控制和检测等。

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